產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
相關文章
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價
通過自動對焦功能和自動繪素位置相結合，測量精度高，登陸recipe實現完wan全自動檢查
| 彩色濾光片評價 | 色測量（透過光譜測量） 色度（XYZ，xy，Lab，L*a*b*，u’v’，u*v*） 色差，白平衡 |
|---|---|
| 反射率測量 * | |
| 濃度（OD）測量 * | |
| 畫素幅測量 * | |
| AF（自動對焦），結合自動繪素 * | |
| 膜厚評價 | 膜厚測量 |
| 膜物性解析（n:折射率，k：消減系數） |
R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM
| 型號 | LCF series |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 50mm×50mm ～* |
| 檢出器 | 分光光度計 ( MCPD檢出器 )，PMT （option） |
| 圖像處理 | CCD相機及monitor 自動對焦結合自動繪畫素機構 |
| Stage及測量部支架 | X-Y-Zstage自動及手動（電動方式） |
* 也可用于大型玻璃基板（3000mm×3000mm以上）
彩色濾光片R、G、B測量
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表